专业性能膜厚仪（测镀层 膜厚）
专业性能型膜厚仪XTU-4C
● 涂镀层厚度分析
● 各层合金成分分析
下照式微聚焦多准型，搭载先进的EFP算法软件和微光聚集技术，配合切换准直器在检测各微小及凹凸面样品时检出限更低，仪器寿命更长，性能更稳定。
● 涂镀层厚度分析
● 各层合金成分分析
下照式微聚焦多准型，搭载先进的EFP算法软件和微光聚集技术，配合切换准直器在检测各微小及凹凸面样品时检出限更低，仪器寿命更长，性能更稳定。
产品特点
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专业性能型膜厚仪XTU-4C
涂镀层厚度分析
各层合金成分分析 -
微聚焦加强型x射线装置
可测试各类极微小的样品，即使检测面积为0.002mm²的样品也可轻松、精准检测；
变焦装置及位置补偿算法，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm；
微米级移动精度，高精密X移动滑轨，实现多点位、多样品的精准位移和同时检测,移动精度可达微米级,轻松应对极微小样品检测； -
先进的解谱技术
减少能量相近元素的干扰，降低检出限；自主研发的EFP算法，多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可精准测量。 -
应用广泛
广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。
规格参数
| 项目 | 参数说明 |
| 型号 | XTU-4C |
| 测量元素范围 | Cl (17) - U (92) |
| 涂镀层分析范围 | Li (3) - U (92) |
| EFP 算法 | 标配 |
| 分析软件 | 同时分析23个镀层，24种元素 |
| 不同层相同元素检测能力 | 标配 |
| 软件操作 | 人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作 |
| X射线装置 | 微聚焦加强型射线管 |
| 准直器 | Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、0.03×0.2mm（四准直器自动切换） |
| 微光聚焦技术 | 最近测距光斑扩散度小于10% |
| 测量距离 | 具有距离补偿功能，可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0–30mm |
| 样品观测 | 1/2.7”彩色CCD，变焦功能 |
| 对焦方式 | 高敏感镜头，手动对焦 |
| 放大倍数 | 光学38–46X，数字放大40–200倍 |
| 仪器尺寸 | 545mm × 380mm × 435mm |
| 样品舱尺寸 | 长430mm × 宽350mm × 高175mm |
| 样品台移动 | 高精密XY手动滑轨 |
| 可移动范围 | 50mm × 50mm |
| 仪器重量 | 48kg |
| 其他附件 | 电脑一套、打印机、附件箱、十二元素片、标准片、电镀液测量杯（选配） |
| X射线标准 | DIN ISO 3497、DIN 50987 和 ASTM B 568 |
广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域
