多功能X荧光光谱仪（ROHS、成分、膜厚）

本机是一款独具科技感的一机多用型光谱仪，采用先进的EFP算法和微光聚集技术的同时搭配新一代的多道及时序排列，专精型既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区ROHS检测及全元素分析，每一个功能都是最专业的。

产品特点

多功能一体式分析仪XAU-4CS

涂镀层分析
新材料检测
地质地矿检测
贵金属检测
合金成分分
P含量检测
微聚焦x射线装置

搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统，最小测量面积达0.03mm²
变焦装置及位置补偿算法

可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm
自主研发的EFP算法 Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精确测量一机多用、精检精测各装置高度集成，不分散、不弱化光强，能够完全兼顾ROHS、全元素分析、各种大小异形涂镀层样品的快速精准检测。
广泛应用

广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。

项目	参数说明
型号	XAU-4CS
涂镀层分析	可同时分析23个镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析，可检测Li（3）－U（92）涂镀层90种元素
RoHS分析	有害元素检测（RoHS、卤素）
成分分析	用于地矿、合金及贵金属等物质中Al（13）-U（92）的80种元素成分分析
EFP算法	标配
软件操作	人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作
分析时间	1–200秒
探测器	SDD 硅漂移探测器
X射线装置	微聚焦加强型射线管
准直器	标配：0.1×0.3mm、φ0.3mm、φ1.2mm、φ3mm；可选：φ0.2mm、φ0.5mm（四准直器自动切换）
微光聚焦技术	最近测距光斑扩散度小于10%
滤光片	集成嵌入式多滤光片切换装置
测量距离	具有距离补偿功能，可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0–30mm
样品观测	1/2.7”彩色CCD，变焦功能
对焦方式	高敏感镜头，手动对焦
放大倍数	光学38–46X，数字放大40–200倍
仪器尺寸	545mm × 380mm × 435mm
样品腔高度	210mm
样品台移动	高精密XY手动滑轨
可移动范围	50mm × 50mm
仪器重量	50kg
其他附件	电脑一套、打印机、附件箱、十二元素片、RoHS标准片、标准片、电镀液测量杯（选配）
X射线标准	DIN ISO 3497、DIN 50987 和 ASTM B 568